Tessent在插Memory的mbist的时候可以设置给mem周围插mem bypass的scan chain
Tessent mbist scan bypass mem
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mbist 的在scan_mode下的mem bypass包括 mem data_in的mem bypass(scan_in_reg)和mem data_out的mem bypass(observer_reg),其中observ_reg是mbist生成的时候默认就会加的，而mem data_in的scan chain是需要在mbist的DFT spec中加入option：
这样就会在interface的mbist 模块中生成scan bypass的RTL电路：
而mem的scan observe reg则是会在mbist生成的时候默认就产生：
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